In2Se3是近年來廣受關(guān)注的一種層狀硫?qū)倩衔铮浣Y(jié)構(gòu)單元由Se-In-Se-In-Se原子層構(gòu)成,層間通過較弱的范德華力結(jié)合,易于剝離成二維薄層。In?Se?憑借其豐富的相結(jié)構(gòu)、鐵電性、可調(diào)帶隙和優(yōu)異的機械性能,在存儲器、光電器件、柔性電子和能源催化等領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景,是未來功能材料研究的重要方向之一。然而,In2Se3存在多種晶相,這些晶相在不同溫度和環(huán)境條件下可發(fā)生相互轉(zhuǎn)變,相穩(wěn)定性問題嚴重影響其在實際應(yīng)用中的可靠性。
中國科學(xué)院寧波材料技術(shù)與工程研究所黃慶團隊提出的“化學(xué)剪刀”層狀材料結(jié)構(gòu)編輯技術(shù),不僅實現(xiàn)了MAX相和MXene等碳氮化物層狀材料的創(chuàng)制(Science,?379,2023,1130-1135),也可用于前過渡族金屬硫?qū)倩衔锏慕Y(jié)構(gòu)調(diào)控(Small,2023,304281;Adv?Funct.?Mater.,2023,2313243)。本工作中,該團隊通過金屬型“化學(xué)剪刀”插層技術(shù)對In2Se3的相穩(wěn)定性和物理性能進行了系統(tǒng)研究。研究發(fā)現(xiàn)該插層技術(shù)可合成出一類全新的化合物NixIn2Se3 (x=0~0.3),其中Ni原子隨機占據(jù)In2Se3的范德華間隙原子位。插層的Ni原子作為“晶格釘扎點”固定了晶體結(jié)構(gòu),使得插層化合物在25~500℃的范圍內(nèi)保持單一相結(jié)構(gòu),有效地解決了In2Se3易相變的問題。Ni原子插層進一步有效調(diào)控了In2Se3的電學(xué)性質(zhì)和熱學(xué)性質(zhì):Ni作為電子給體顯著提升了In2Se3材料的載流子濃度和電導(dǎo)率;與此同時,層間無序化Ni原子結(jié)構(gòu)則增強了點缺陷密度和界面聲子散射,從而降低了其熱導(dǎo)率。由于In2Se3材料電導(dǎo)和熱導(dǎo)分別受到以上不同物理機制的影響, Ni0.3In2Se3相對比原始的In2Se3的熱電性質(zhì)獲得了顯著提升,前者在500℃的熱電ZT值提升了135%。
該成果以“Phase Stabilization of In2Se3?by Disordered Ni Intercalation and its Enhanced Thermoelectrical Performance”為題發(fā)表于國際學(xué)術(shù)期刊《先進材料》(Advanced Materials,2025,e07536,DOI: 10.1002/adma.202507536)。本研究得到了國家自然科學(xué)基金(52172254,U23A2093,12435017,12275336)、浙江省創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)團隊(2019R01003)、浙江省尖兵計劃(2022C01236)、寧波市自然科學(xué)基金(2022J297)、寧波市青年科技創(chuàng)新領(lǐng)軍人才項目(2024QL022)、中國科學(xué)院青年創(chuàng)新促進會(2022298)等項目的支持與資助。

圖1?(a)Ni原子插層In2Se3過程示意圖;(b)掃描電鏡和能譜分析顯示Ni插層In2Se3樣品的形貌和元素分布;(c)高分辨球差電鏡顯示Ni0.3In2Se3的原子結(jié)構(gòu),其中Ni原子在In2Se3層間隨機分布

圖2?Ni插層對In2Se3相穩(wěn)定性的影響:(a-b)原位XRD揭示In2Se3和Ni0.3In2Se3在50-500℃溫度范圍內(nèi)的相結(jié)構(gòu)變化;(c-d)In2Se3和Ni0.3In2Se3不同的相轉(zhuǎn)變行為示意圖

圖3?In2Se3和Ni0.3In2Se3在室溫至500℃溫度范圍內(nèi)沿面外方向的物性對比:(a)電導(dǎo)率;(b)載流子濃度;(c)載流子遷移率;(d)熱導(dǎo)率;(e)塞貝克系數(shù);(f)熱電ZT值
?